AHMT 2015 Ilmenau

AHMT 2015, 16.09.-18.09.2015, Ilmenau
AHMT 2015, 16.09.-18.09.2015, Ilmenau

AHMT 2015


Das XXIX. Messtechnische Symposium fand vom 16.-18.09.2015 an der Technischen Universität Ilmenau statt.

Der Arbeitskreis der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. AHMT ist ein Verein von Universitätsprofessoren, die im Bereich der Messtechnik in Forschung und Lehre tätig sind und wurde 1986 gegründet.

Gastgeber des diesjährigen Messtechnische Symposiums war das Institut für Prozessmess- und Sensortechnik an der Technischen Universität Ilmenau. Dem Institut gehören die folgenden Fachgebiete an: 
  • Prozessmesstechnik, Leiter: Univ.-Prof. Dr.-Ing. habil. Thomas Fröhlich
  • Fertigungs- und Präzisionsmesstechnik, Leiter: Prof. Dr.-Ing. habil. Eberhard Manske
  • Außerplanmäßiger Professor im Institut für Prozessmess- und Sensortechnik apl. Prof. Dr.-Ing. habil. Roland Füßl
 
Smooth generic camera calibration for optical metrology – the concept   Alexey Pak -  Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB 150918_01_pak_fraunhofer_iosb.pdf

Smooth generic camera calibration for optical metrology – the concept 

Alexey Pak -  Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB

Content:
  • Digital camera as a metrological instrument
  • Types of camera calibration
  • Generic camera model
  • Pattern decoding and uncertainty quantification
  • Which camera models already exist?
  • Summary
Entrauschungsalgorithmus für Hyperspektralbilder mit Poisson-Statistik  Sebastian Bauer - Karlsruher Institut für Technologie – KIT 150918_02_bauer_kit.pdf

Entrauschungsalgorithmus für Hyperspektralbilder mit Poisson-Statistik

Sebastian Bauer - Karlsruher Institut für Technologie – KIT

Content:
  1. Praktischer Anwendungsfall
  2. Grundlagen
  3. Vorgehensweise
  4. Ergebnisse
  5. Zusammenfassung und Ausblick
Reflektometrische hyperspektrale Dünnschichtmesstechnik  Anton Tremmel - Technische Universität München 150918_03_tremmel_tu_muenchen.pdf

Reflektometrische hyperspektrale Dünnschichtmesstechnik

Anton Tremmel - Technische Universität München

Überblick:
  1. Motivation
  2. Ansatz für die Realisierung
  3. Aufbau des Messsystems
  4. Messablauf
  5. Messergebnisse
  6. Zusammenfassung
  7. Ausblick

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