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  1. Standard
    Röntgenspektrometrie für die mikro- und nanostrukturierte Oberflächenanalytik
    Thomas Grafe, Schülein, Analytikstation - Bruker AXS Microanalysis GmbH Inhalt: Kopplung unterschiedlicher Methoden für die Oberflächenanalyse: Basis -"Rasterelektronenmikroskop(REM),Mikro-XRF,/ EDX/ EBSD; Elektronenanregung, Anregungsvolumen und Eindringtiefe; EDX-Detektoren und NASA Exploration Rover mit SDD-Technologie, Mars-Spektren mit SDD gemessen, Stickstoffgekühlter Si(Li)-Detektor,XFlash ®3001-Detektor Silicon Drift Diode (SDD3) -" der 3. Generation; QUAD XFlash ®Detektor; Bruker AXS QUANTAX: Online-ColorScan, Real-Time-Spektrometrie, Ultraschnelles und Quantitatives Element-Mapping, Hyper-Mapping, Drift-Korrektur; Anwendungen: Vergleich Element-Mapping, Element-Image: Meteorit, Lötstelle, Bremsbelag; Anwendung: Mikrostrukturen, Mikroeinlagerung in Stahl, Visualisierung von Mikrostrukturen, Untersuchung von Metallen, Geologie, Phasenanalyse, Kunstobjekte, Halbleiter, Empfindliche Materialien Keywords: Papers 2006, Indust ...
    Erstellt: 25.05.2012 21:27
     
  2. Standard
    NEMO-Applikationsforum-Bildverarbeitung Jena
    Über 50 Akteure aus 10 NEMO-Netzwerken im Bereich der Bildverarbeitung präsentierten individuell bequeme, funktionell zuverlässige und finanziell erschwingliche Lösungen. ...
    Erstellt: 28.03.2006 13:11