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Suchbegriffe



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  1. Standard
    Vollautomatischer Test und Charakterisierung von MOEMS
    Michael Scholles - Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS Inhalt: Photonische Mikrosysteme MEMS, MOEMS, Aktuatoren: Spatial Light Modulator Arrays, mikromechanische Scanner, OLEDs, Sensoren Photodioden, ASICs Monitoring Aktoren Sensoren; Technologieentwicklung, Technologietransfer; Micro Scanner Devices MSD, Bar Code, Laser Projektion, Endoskope, Pattern Generation, Laser Printers, Direct Prototyping, Metrology, Spectrometer, LIDAR, Triangulation, Konfokale Mikroskopie;Electrostatic Drive; Optischer Messplatz; Progressiv Scan CCD Digitalkamera; Labormikroskop; Halbautomatisches Waferprobing System, Fernsteuerung IEEE488-Interface; Graphical User Interface for Optical Chiptest; AOI Automatische Optische Inspektion: MEMS Drucksensor, CMOS Photo-Sensor Keywords: Papers 2006, Industry,Vision Sensors, Systems, Research & Development (R&D) ...
    Erstellt: 25.05.2012 11:35
     
  2. Standard
    Workshop Photonik Dresden
    Test optoelektronischer Bauelemente 04. Mai 2006 in Dresden ...
    Erstellt: 05.05.2006 18:26