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Suchbegriffe



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  1. Standard
    Strategieprozesse in Clustern - Integration von Hard- und Soft- facts
    Dr. Martin J. Thul - MicroTEC GmbH Gliederung: Strategieprozesse in einem Spitzencluster Das PaGIMo-Modell für (strategische) Veränderungsprozesse Zur Notwendigkeit einer partizipativen Strategieentwicklung Strategieprozesse eines Spitzenclusters Der Strategieprozess des Clustermanagements Strategieprozesse spezieller Strategie-Teams Strategieprozesse der Cluster-Unternehmen Fazit Keywords: Papers 2012, Marketing & Sales (M&S) ...
    Erstellt: 14.06.2012 10:36
     
  2. Standard
    Strategieprozess im Cluster und Herausforderungen an das Clustermanagement
    Dr. Volker Nestle - MicroTEC GmbH Content: Agglomerationseffekte und Clustermanagement Empirischer Befund @ MicroTEC Südwest* Effizienzsteigerung im Clustermanagement Besondere Herausforderungen an das Clustermanagement Strategieprozess und -deployment @ MicroTEC Südwest Zusammenfassung Keywords: Papers 2012, Marketing & Sales (M&S) ...
    Erstellt: 14.06.2012 10:32
     
  3. Standard
    Structure, Strategy and Highlights of MicroTEC Südwest
    Dr. Christine Neuy - MicroTEC GmbH Content: CLUSTER PROFILE  SELECTION OF ACTIVITIES Cooperative Strategy Process STRATCLU Activities towards Cluster Excellence: Benchmarking Internationalisation - good practice South Korea Knowledge Management CONTACT DETAILS Keywords: Papers 2012, Marketing & Sales (M&S) ...
    Erstellt: 13.06.2012 16:06
     
  4. Standard
    Wissenstransfer im Dialog
    Dr. Carsten Hutt - MicroTEC GmbH Inhalt: Chancen Risiken Zentrale Herausfoderungen Matrixorganisation IT-Infrastruktur Prozesse und Methoden Ergebnis Keywords: Papers 2012, Marketing & Sales (M&S) ...
    Erstellt: 13.06.2012 15:51
     
  5. Standard
    Qualifikation von optischen und opto-elektronischen Bauteilen
    Günter Lippold - microtec GmbH Inhalt: Zuverlässigkeit, Testbedingungen, optische Bauelemente, opto-elektronische Bauelemente, Schwachstellen, Qualifikationsablauf; Testdienstleistungen, Testequipment, Analyseequipment, Telecordia, MIL, JEDEC, ESA, DIN, IEC, AEC-Q 100/200, Fehleranalyse, Beratung, Logistik, Supply Chain Service, Chip, Baugruppe; Bauteile-Qualifikation: Optische Parameter, Elektrische Parameter, Mechanische Stabilität, Umweltbedingungen; Zuverlässigkeitsbetrachung: Komponententests, Beobachtung relevanter Parameter Degradation, Fehleranalyse, Fehlermechanismus, Fehlerkriterien, Lebensdaueraussage, Wahrscheinlichkeitsrechnung; Sub-Komponenten: Lot by Lot Kontrolle, Feldausfälle, Korrekturmaßnahmen; Lagerung, Verarbeitung, Überwachung Keywords: Papers 2006, Industry, Optics, Products & Services (P&S) ...
    Erstellt: 25.05.2012 11:52
     
  6. Standard
    Wafer-Level Test von optoelektronischen Bauelementen
    Frank Michael Werner - SUSS-MicroTec Test Systems GmbH Inhalt: Wafer Level Testing, optoelectronic devices; Substrate Handling, Structure Visualization, Probe Manipulation, Perform Test, Data & Result Management Software; Microscopes, Cameras, Pattern Recognition; Software Interfacing; Wafer Map; Data Storage; Data Transfer; VCSEL, LED, Edge-emitting Lasers, Photo Diodes, FPA, Optical MEMS, Hybrids; Optp Testing; Hardware Interfacing; Illuminating, Measuring; Zoom Function Wafer Map; Modular Concepts; LED Testing; Thermal Chuck; Binning Functions; Laser Stimulation; Optical Fiber; Vacuum Test, Vacuum Prober, Cryogenic Test, Optical MEMS, FPA Devices Keywords: Papers 2006, Industry,Systems, Research & Development (R&D) ...
    Erstellt: 25.05.2012 11:23
     
  7. Standard
    Clusterkonferenz 2012 Berlin
    Clusterkonferenz, 23.02.-24.02.2012, Berlin ...
    Erstellt: 20.04.2012 12:33
     
  8. Standard
    VISION 2010 Stuttgart
    VISION 2010, 09.11.-11.11.2010, Stuttgart ...
    Erstellt: 20.11.2010 10:23
     
  9. Standard
    Workshop Photonik Dresden
    Test optoelektronischer Bauelemente 04. Mai 2006 in Dresden ...
    Erstellt: 05.05.2006 18:26